zem-3热电性能分析系统
技术特点：
· 温度检测采用r型热电偶
· 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出v/i图表
· 基于日本工业标准jis (热电能jis 电阻率jis r 1650-2)
· 试样支架采用独特的接触式平衡机构，保证测量的高重现性
· 采用高级数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差
zem-l
zem-ls
zem-3m8
zem-3m10
测量温度
-80℃-100℃
-100℃-500℃
rt-800℃
rt-1000℃
控温精度
                           ±0.5k
测量原理
       塞贝克系数：静态直流电；           电阻系数：四端法
测量范围
       塞贝克系数：0.5μv/k_25v/k；       电阻系数：0.2ohm-2.5kohm
分辨率
       塞贝克系数：10nv/k；              电阻系数： 10nohm
测量精度
       塞贝克系数：＜±７％；　　　　     电阻系数：＜±10％
样品尺寸
       直径或正方形：2 to 4 mm2   ×6 to 23mm长
热电偶导距
4,6,8 mm（或定制）
电  流
0 to 160 ma
气  氛
减压he

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北京精科智创科技发展有限公司
谢伟华
18210063398