目前我国光谱仪种类繁多，应用的领域也极其广泛。其被广泛应用于农业、天文、汽车、生物、化学、镀膜、色度计量、环境检测、薄膜工业、食品、印刷、造纸、喇曼光谱、半导体工业、成分检测、颜色混合及匹配、生物医学……等等领域。随着技术要求和工作需求的多样化，光谱仪技术及其行业市场稳步提升。
光谱仪——目前科研方面用于物质检测等用途，价格数万元，体积大小超过一台台式机。据重大微系统研究中心主任温志渝介绍，将被检测的物质放入该机器，检测速度非常快，只需要几分钟就可以出检测结果。在食品检测方面，如果发现问题食品，现场就能直接进行检测，迅速得出结果，不用再经历抽样、带回检测中心、检测、出结果的漫长过程。
谈及国产光学高端仪器的发展，是由国家经济、行业需求带动起来的。中国的光学分析仪器再想上一个台阶，一是产品的同质化现象严重，仪器刚面世，仿者就紧随而来，价格打压下，市场被削减，企业连成本都收不回来，再想跟进研发举步维艰。导致最后产品大同小异，噱头十足，缺乏实质性的技术进步。二是研发人才的短缺，高端仪器的研发是一个漫长艰苦的过程，真正能在研发上发力的人员，往往需要在装配车间，研发队伍中沉淀五年以上，才能说参悟出研发的一些门道，因此更需要研发人员的长期坚守。由于横跨了光机电算不同行业，研发团队还得有融洽的研发氛围，才能构成国产高端仪器诞生的充分必要条件。中国的分析仪器未来要跟上使用者的需求，才是发展的终端目标，而非异想天开，脱离实际。
如今除质谱和石墨炉技术与国际水平有明显差距外，其他仪器基本上已经与国际水平比肩，至少能够满足基本的检测需求。但是，我们不能忽视国产仪器本身存在的一些问题。就是国产仪器的好多零部件不过关，目前许多仪器在国内已经国产，但是国产光谱仪内部的好多零件还是要国外进口。
据了解，从五十年开始，科学家就开始探索液钢的直接分析问题，但由于现场环境及技术水平限制，多年来未取得明显进展。
八十年代以来，日、美、英、法等国在液钢分析领域取得了一定成果，有的已用于生产。钢液直接分析从原理上分为两类：一是分析钢液表面产生的光谱，用光纤接收到光谱仪上进行测定，另一类是使钢液产生微粒后将其送至ic甲光谱仪上，分析生成的微粒。但目前只能分析个别元素如si，mn等。现在液钢直接分析仍然是非常有意义的课题.随着光导纤维技术的提高，碳、磷、硫也有希望得到直接测量。中国的分析仪器未来要跟上使用者的需求，才是发展的终端目标，而非异想天开，脱离实际。
一 . 近红外光谱仪分析的化学基础
近红外光谱分析的范围一般为 4000cm-1以上，即波长 2.5μm以下，由于有不同级别的倍频谱带及不同形式组合的合频吸收，使得谱带复杂，信息丰富。
近红光的信息强度比中红外要低一个数目级左右，由于近红外谱区吸收弱，所以可以对不经稀释的样品进行直接丈量，分析样品可以不需任何物理、化学制备与预处理，也不需要分析的后处理，一但近红外的数学模型建立后，对操纵职员进行分析的知识背景与经验背景可以大幅降低。
二 . 近红外光谱仪 光谱分析的数学基础
作为一种软件技术，近红外光谱分析着重用数学方法来解决其谱峰重叠、丈量信息高背景低强度、图谱测定的不稳定造成的光谱失真三大难点。通过化学计量学的多元校正方法来解决谱峰重叠、丈量信息高背景低强度的难点；用信息处理技术来校正图谱测定不稳定造成的光谱失真。
三 . 近红外光谱仪 光谱常规分析方法
近红外光谱的分析测定技术大体可以分为两大类：一类为透射光谱法，一类为反射光谱法。
透射光谱法就是把待测样品置于作用光与检测器之间，检测器所检测到的分析光是作用光通过样品体与样品分子相互作用后的光，若样品是透明的真溶液，则分析光在样品中经过的路程一定，透射光的强度与样品组分浓度由比耳定律决定。
反射光谱分析时，检测器与光源置于待测样品的同一侧，检测器检测到的分析光是光源发出的作用光投射到物体后，以各种方式反射回来的光。物体对光的反射分为规则反射光（镜面反射）与漫反射。规则反射光指在物体表面按进射角即是反射角的反射定律发生的反射。漫反射是光投向漫反射体（颗粒或粉末）后，在物体表面或内部发生的方向不定的反射。
四 . 近红外光谱仪 光谱分析的用途
近红外光谱分析主要包括定性分析和定量分析。
1）定性分析
近红外光谱定性分析利用模式识别与聚类的一些算法，主要用于鉴定。在模式识别运算时需要有一组用于计算机 “ 学习 ” 的样品集，通过计算机运算，得出学习样品在数学空间的范围，对未知样品运算后，若也在此范围内，则该样品属于学习样品集类型，反之则否定。聚类运算时不需学习样品集，它通过待分析样品的光谱特征，根据光谱近似程度进行分类。
2）定量分析
近红外光谱分析与其它吸收光谱按照比耳定律作定量分析类似。作常规光谱定量分析时，需要建立光谱参数与样品含量间的关系（标准曲线）。但对复杂样品作近红外光谱定量分析时，为了解决近红外谱区重叠与谱图测定不稳定的题目，必须充分应用全光谱的信息。这是由于在近红外光谱中和各个谱区内都包含多种成分的信息（即谱峰重叠），而同一种组份的信息分布在近红外光谱的多个谱区：不同组分固然在某一谱区可能重叠，但在全光谱范围内不可能完全相同，因此，为了区别不同组分，必须应用全光谱的信息，建立全谱区的光谱特征与待丈量之间的关系——即数学模型。
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